このコンテストは，実際に生産現場で課題となっている画像に対して，検査プログラムを開発し，欠陥認識率と検査時間を競うものです．今年度も昨年同様のスケジュールで実施する予定ですので，多くの学生の皆さん，エンジニアの方々のご応募をお待ち致しております．下のリンクをご参照ください．

→外観検査アルゴリズムコンテスト2008

※過去の開催記録もご参照ください

外観検査アルゴリズムコンテスト2007

外観検査アルゴリズムコンテスト2006

外観検査アルゴリズムコンテスト2005

外観検査アルゴリズムコンテスト2004