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２００７年度第３回定例研究会 テーマ「生産システム関連の画像応用技術」 |
日時 2007年11月16日(金) 14:00- 受付：13:30- 場所 東京電機大学工学部 6号館 3階 6301教室 交通案内 http://www.dendai.ac.jp/map/kanda.html 所在地 東京都千代田区神田錦町2-2 講演（14:00-15:00）
「半導体計測・検査への画像処理技術の応用技術」
(株)日立ハイテクノロジーズ ナノテクノロジ製品事業本部 渡辺 健二 氏
講演（15:10-16:10）
「FEDパネル製品工程における最新外観検査技術」
タカノ(株)エレクトロニクス部門 画像計測グループ開発部 戸田 好実 氏
研究発表（16:10-16:40）
「電子ディスプレイの色むらグレード評価」
広島工業大学 工学部電子情報科 浅野 敏郎 氏
事例紹介（16:40-17:00）
「大型FPDパネル点灯検査の自動化への取り組み」(仮称)
(株)ファースト ソリューション開発本部 ソリューション1部 三谷 洋之 氏
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