ViEW2008では産総研理事長吉川弘之氏をお招きし、「これからの科学技術研究」についてご講演いただきます。
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ViEW2008では基調講演と一般講演を組み合わせたハイブリッドセッションにて構成されます。
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前身である「外観検査の自動化」ワークショップより、今回のViEW2008で第20回目となりました。
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各基調講演者に「躍進する画像技術の行方」と題して討論いただきます。
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奥富先生の基調講演に連動しまして、5日の受付付近にて「画像超解像処理デモ」を展示しております。