ごあいさつ


ViEW2005では409名に皆様のご参加を頂き、盛況に終了することができました。誠にありがとうございました。

ViEW2006は2006年12月7日（木）、8日（金）開催予定です。皆様のまたのご参加をお待ちもうしております。



ViEW2005(Vision Engineering Workshop)は、横浜ベイエリアで開催される恒例行事として春のSSII、秋のViEW（ビュー）として親しまれております。

本ワークショップは、これまで16年間に亘り日本における「ものづくり」を支える基盤技術として外観検査など生産技術に関わる画像処理応用技術の発信源として貢献してまいりました。最近は画像処理、マシンビジョンの応用分野が着実に拡がっております。これに呼応し、人や車の認識理解など交通から社会システムまで視野を広げたビジョン技術の実利用を追及し、実用化をめざす多くの企業や大学のみなさまの発表と意見交換、情報収集の場として評価いただいております。毎回特別講演、パネル討論などで最新の話題が提供され、活発な議論のもと各界から毎年300名近い方々にご参加頂いております。

今年のViEW2005は、特色ある成果を口頭発表とインタラクティブで発表するハイブリッドオーラルを採用しました。これらの成果と基調講演をテーマ別に組み合わせたセッション構成により参加者全員が最新の情報を共有できるシングルトラック方式を実現しました。先の見えない時代、多くの方に、話題の輪に加わって頂きたいと思います。

新たなViEWで確かな一歩を！


TOPICS

特別講演：
X線CTを用いた現物融合型エンジニアリング　
三和田靖彦氏　（トヨタ自動車株式会社　計測技術部）
「大型Ｘ線ＣＴの開発と、非破壊検査により設計データと現物の照合をはかる新しいエンジニアリング」

基調講演：

  • 半導体検査における技術課題と展望　中川泰夫技師長（株式会社日立製作所　研究開発本部）
  • ビジョン技術の現状と課題（ユビキタス情報インターフェースのために）　山田敬嗣所長（NEC株式会社 メディア情報研究所）
  • 今改めて車に載せるカメラを考える　二宮芳樹室長（株式会社豊田中央研究所　車両・安全・ＩＴＳセンター）
  • 複合現実感のための実環境の3次元計測　横矢直和教授（奈良先端科学技術大学院大学）

パネル討論：

次にカメラができること　-見るカメラから分かるカメラへ-　

オーガナイザー：金子俊一教授（北海道大学）
パネラー： 基調講演講師（中川泰夫技師長、
山田敬嗣所長、二宮芳樹室長、横矢直和教授）



参加募集・プログラムはこちらからダウンロードできます。



講演申込期限：2005年8月15日（月）

　　　　　　　　　 2005年8月25日（木）

（受付け終了いたしました。たくさんのお申込みありがとうございました）


原稿提出期限： 2005年10月11日（火）



同時開催

国際画像機器展



おしらせ　（更新日：05/11/16）

● 05/11/16

8、9日両日とも、昼食時間もインタラクティブセッションがご覧いただけるようになりました。詳しくは、プログラムをご確認ください。


● 05/11/11

ハイブリッドセッション、ならびにインタラクティブセッションの方の発表方法を更新いたしました。ご確認ください。


● 05/9/29

プログラムはこちらからダウンロードできます。

● 05/9/21

「発表について」を更新いたしました。


● 05/8/12

参加申込受け付けを開始いたしました。


●05/8/8

講演申し込み締め切りを8月25日(木)に延期いたしました。


● 05/8/1

講演申し込みまであと15日となりました。お早めに講演申し込みをお済ませください。


● 05/7/11

講演募集はこちらからダウンロードできます。

講演募集（PDF：275K）