home






~原点回帰で甦る~


ViEW2017

日程:2017年12月7日(木),8日(金)
会場:パシフィコ横浜アネックスホール(〒220-0012 横浜市西区みなとみらい1-1-1)

★参加申し込み受付中!

こちらからお願いします. Web登録は「12月4日正午」までです.

当日受付よりも安く,またスムーズな入場が可能なWeb登録をご利用下さい.

★プログラム公開中!

こちら( html版pdf版)からご覧下さい. 特別企画は,こちらです.

★発表者の皆様へ!

こちらをお読みください.

特別講演

特別講演1 特別講演2


輿水 大和 氏
(中京大学教授・人工知能高等研究所長)
榊原 彰 氏
(日本マイクロソフト㈱執行役員・CTO)
 
「画像技術の学術的覚悟
   -もっと深く、広く、もっと先に-」
 
産業に浸透するMixed Reality
 

基調講演

基調講演1 基調講演2 基調講演3 基調講演4




野中 一洋 氏
(産業技術総合研究所)
 
岡谷 貴之 氏
(東北大学)
 
佐藤 真一 氏
(国立情報学研究所)
 
山下 紘正 氏
(カイロス㈱)
 
「IoT時代に向けた 
外観検査と標準化」
「質感の画像認識に
ついて」
「画像・映像解析ベンチマークとその功罪」 「8K超高解像度映像技術の医療応用」
 

特別企画セッション1

未来を感じさせるクルマ・未来を見据えたテクノロジー

基調講演 講演1 講演2



野辺 継男 氏
(インテル㈱,名古屋大学)
 
上田 哲郎 氏
(日産自動車㈱)
 
高橋 巧一 氏
(日本電気㈱)
 
「未来のクルマ(完全自動運転車)が  
  提供する未来の移動と画像認識」
「未来の車はなぜ  
  空っぽなのか」
「近年の顔認証関連技 
  術の動向と取り組み」
 

特別企画セッション2

Beyond RGB ! 可視光を超えるセンシング技術

基調講演 講演1 講演2




長谷川 寛 氏   寺田 浩敏 氏 柴田 剛志 氏 布施 則一 氏
(浜松ホトニクス㈱)
 
(日本電気㈱)
 
(電力中央研究所)
 
「イメージインテンシファイアを用いた
       深紫外光イメージング」

「近赤外光センシング技術      
  ~ 半導体故障解析装置への応用」
「遠赤外光を活用したマルチモーダル画像センシング技術とその応用」
 
「テラヘルツ波による電力機器・設備の非破壊検査技術の開発」
 
 

CFP

CFPはこちらからダウンロードできます。

重要な日程

講演申込期限

2017年9月15日(金)

採択通知

2017年10月10日(火)

カメラレディ提出期限

2017年10月27日(金)













お問い合わせ先: 〒169-0073 新宿区百人町2-21-27 アドコム・メディア(株)内 ViEW2017係,   TEL: 03-3367-0571,  e-mail:iaip@adcom-media.co.jp
Copyright (C) 2017 ViEW All Rights Reserved.