日時　2009年1月16日(金) 14:00-　受付：13:30-

場所　東京電機大学　６号館　３階　６３０１会議室

交通案内　http://www.dendai.ac.jp/map/kanda.html

所在地　東京都千代田区神田錦町2-2

講演（14:00-15:00）
「光学特性を利用したＩＴ電子部品の検査・計測技術」

講演（15:10-16:10）
「ものづくり分野における光学的微細計測技術」

研究発表（16:10-16:30）
「ＩＣパッケージ標印文字識別法の検討―角度テンプレートマッチング法と正規化相関法の比較―」

報告（16:30-16:40）
「第７回日仏/第５回ヨーロッパ・アジア　メカトロニクス会議」

報告（16:40-16:50）
「第３回アジアメカトロニクス国際シンポジウム報告」

報告（16:50-17:00）
「外観検査アルゴリズムコンテスト２００８審査報告」

新年会（17:30-　６号館４階６４０１教室）
参加費　2000円（当日徴収）